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Weak Localization and Electron-electron Interactions in Few Layer Black Phosphorus Devices

机译:少数层黑的弱定位和电子 - 电子相互作用   磷装置

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摘要

Few layer phosphorene(FLP) devices are extensively studied due to its uniqueelectronic properties and potential applications on nano-electronics . Here wepresent magnetotransport studies which reveal electron-electron interactions asthe dominant scattering mechanism in hexagonal boron nitride-encapsulated FLPdevices. From weak localization measurements, we estimate the electrondephasing length to be 30 to 100 nm at low temperatures, which exhibits astrong dependence on carrier density n and a power-law dependence ontemperature (~T-0.4). These results establish that the dominant scatteringmechanism in FLP is electron-electron interactions.
机译:由于其独特的电子特性和在纳米电子学上的潜在应用,很少有人对磷层(FLP)器件进行广泛的研究。在这里,我们介绍了磁传输研究,揭示了电子-电子相互作用是六方氮化硼封装的FLP器件中的主要散射机制。从弱的局部测量结果来看,我们估计低温下的电子移相长度为30至100 nm,这表现出对载流子密度n的强烈依赖性和对温度的幂律依赖性(〜T-0.4)。这些结果证明,FLP中主要的散射机制是电子-电子相互作用。

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